������������ϵͳ(power device measurement) ��Ƭ���ʲ���ϵͳ(load pull)
������ϻ�ϵͳ(transistor aging system ) ̨����(profile meter)
ԭ��������(AFM) ɨ�����������SEM��
���������ǣ�infra scope�� ��Ƭ����cutting��
����������ǿԭ�Ӳ�����PEALD�� ����������̨��electron beam evaporation��
̽��̨�Ͱ뵼����������ǣ�Probe and semiconductor analyzer ��
|
���������������豸 ������������ϵͳ(power device measurement) ��Ƭ���ʲ���ϵͳ(load pull) ������ϻ�ϵͳ(transistor aging system ) ̨����(profile meter) ԭ��������(AFM) ɨ�����������SEM�� ���������������豸 ���������ǣ�infra scope�� ��Ƭ����cutting�� ����������ǿԭ�Ӳ�����PEALD�� ����������̨��electron beam evaporation�� ̽��̨�Ͱ뵼����������ǣ�Probe and semiconductor analyzer �� �ߵ��º潺�� |
��̻� �Ӵ�ʽ�����̻�
������ֱд��̻�
