功率器件测试系统(power device measurement)在片功率测试系统(load pull)晶体管老化系统(transistor aging system ) 台阶仪(profile meter)原子力显微镜(AFM) 扫描电子显微镜(SEM)
本网站版权*西安电子科技大学宽带隙半导体国家重点实验室 陕ICP备06007346号 电话:029-88202073 电子邮箱:pjma@xidian.edu.cn技术支持:西安聚力