材料测量分析和表征仪器◇变温Hall效应测试仪(77K-350K)◇变温PL-EL谱测试仪(10K-300K)◇紫外/可见光透射谱仪(190nm-1100nm)◇基于汞探针的C-V测试仪(5KHz-5MHz)◇Agilent 5400 AFM/STM系统◇Bruker D8Discover HRXRD系统
本网站版权*西安电子科技大学宽带隙半导体国家重点实验室 陕ICP备06007346号 电话:029-88202073 电子邮箱:pjma@xidian.edu.cn技术支持:西安聚力