游海龙（Hailong You）

教授（华山学者），博士生导师

西电EDA研究院副院长

西安市系统芯片与微系统重点实验室副主任

西电-海思EDA技术委员会主任

西电-华大九天EDA联合实验室主任

游海龙，湖北阳新人，博士，教授，博士生导师；兼聘西电管理科学与工程学科研究生导师，现任西电-国微EDA研究院副院长，西安市系统芯片与微系统重点实验室副主任，西电-海思EDA技术委员会主任。于2002年6月，2006.12月毕业于西安电子科技大学光电子技术、微电子与固体电子学专业，分别获学士、博士学位；于2010.9-2011.9月在美国佐治亚理工学院（Georgia institute of technology）从事博士后研究。

目前主要研究方向为集成电路可靠性与设计自动化，长期从事半导体制造过程控制、集成电路可靠性设计等关键技术研究。2007年至今，主持包括国家自然科学基金、科技部专项等省部级课题三十余项。在IEEE Trans. SEMI MANUFACTURING, ASP-DAC, Microelectronics Reliability, Chinese Physics B, Chinese journal of electronics , JEDS, TODAES, Integration 等国内外学术期刊与会议上发表论文60余篇，其中被SCI、EI、ISTP检索二十余篇；出版三部专著和教材，获专利授权10余项。

游海龙教授至今主讲的本科生课程包括《半导体器件物理I》（获评国家级一流课程）、研究生课程《Spice电路模拟与仿真》、《微电路质量可靠性保证、评价与失效分析》。

• 相关动态

• 西电-华大九天EDA联合实验室揭牌成立
  

• 《半导体器件物理I》课程入选第二批国家级一流课程2023.04

• Machine Learning Based Framework for Fast Resource Estimation of RTL Designs Targeting FPGAs在ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems期刊发表 2022.12

• 新突破 西电学子问鼎ISPD国际集成电路物理设计竞赛冠军2022.04

• High quality hypergraph partitioning for logic emulation在Integration期刊发表2022.03

• 西电国微EDA研究院案例获2020中国高等教育博览会“校企合作 双百计划”典型案例2021.05

• 2021年集成电路设计自动化国际学术研讨会召开2021.03

• 西电学子获2020集成电路EDA设计精英挑战赛最高奖2020.12

• 西电学子获ISPD国际集成电路物理设计竞赛亚军2020.06

• Reliability hazard characterization of wafer-level spatial metrology parameters based on LOF-KNN method在Microelectronics Reliability期刊发表 2020.02

• 2020年先进集成电路设计自动化国际研讨会举办2020.01

• Statistical Process Control for Monitoring the Particles With Excess Zero Counts in Semiconductor Manufacturing在IEEE TRANSACTIONS ON SEMICONDUCTOR MANUFACTURING期刊发表 2019.02

招生信息

硕士招生专业：微电子学与固体电子学、集成电路工程（专业）、集成电路科学与工程

博士招生专业：集成电路科学与工程（140100）

每年计划招收1-2名博士研究生和7名左右硕士研究生，男女生不限，欢迎优秀学子报考博士/硕士研究生、优研计划和免试研究生！！

希望进入本组的同学具有良好的数学、英语基础，英语四、六级成绩优异者予以优先考虑；具备一定的电路设计与原理知识，具有一定的算法、机器学习知识者，具有EDA软件使用经验者；相关竞赛成绩优异者予以优先考虑。 拟报考和申请推免的学生，请准备一份个人简历发送邮箱：hlyou@mail.xidian.edu.cn。

EDA研究团队

微电子学院EDA团队针对集成电路设计自动化技术与EDA系统研发方向开展研究，重点研究数字集成电路物理设计布局布线方法、先进物理设计算法和基于机器学习的建模方法、面向云平台大规模硬件仿真的芯片划分技术与软件系统、器件建模与TCAD仿真、集成电路设计的可信技术与IP设计验证等EDA关键技术。在EDA的硬件仿真提出面向IC的超图划分算法框架和算法，实现高质量百亿级规模电路划分，成果发表在EDA知名国际期刊TODAES（2022）, Integration（2022），申请专利2项、软著1项，应用于我国自主EDA领先企业；提出了面向DTCO的可靠性设计方法，提升了可靠性仿真效率与精度，在产业界得到应用，成果发表在IEEE Semi M，Microelectronics Reliability等。在EDA学术竞赛中，团队取得2022 ISPD国际竞赛全球冠军（中国大陆16年首次），国家EDA精英挑战赛最高奖麒麟杯，以及2021ICCAD全球前三等50余项获奖。