郝跃
个人信息:Personal Information
教授
性别:男
毕业院校:西安交通大学
学历:博士研究生毕业
学位:博士学位
在职信息:在岗
所在单位:集成电路学部
学科:集成电路系统设计 微电子学与固体电子学
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The characteristics of fluorinated gate dielectric AlGaN/GaN MIS-HEMT
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所属单位:微电子学院
发表刊物:IEICE ELECTRONICS EXPRESS
第一作者:Mi, Minhan; He, Yunlong; Hou, Bin; Zhang, Meng; Shi, Zuochen; Ma, Xiaohua; Li, Peixian; Hao, Yue
论文类型:Article
论文编号:SCI WOS:000367808900012
卷号:12
期号:24
ISSN号:1349-2543
是否译文:否
发表时间:2015-01-01
收录刊物:SCI