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个人信息：Personal Information
副教授 研究生导师
性别：男
毕业院校：西安电子科技大学
学历：博士研究生毕业
学位：工学博士学位
在职信息：在岗
所在单位：微电子学院
入职时间：2019-03-01
学科：微电子学与固体电子学
办公地点：西安电子科技大学宽禁带半导体国家工程中心403
联系方式：bhou@xidian.edu.cn houbinme@163.com
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Electrical Degradation of In Situ SiN/AlGaN/GaN MIS-HEMTs Caused by Dehydrogenation and Trap Effect Under Hot Carrier Stress
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所属单位：Xidian University
发表刊物：IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
全部作者：Yu-Shan Lin,朱青,Fong-Min Ciou,Kuan-Hsu Chen,陈怡霖,杜佳乐,武玫,张濛,王冲,张鼎张,郝跃
第一作者：牛雪锐
论文类型：期刊论文
通讯作者：侯斌,马晓华,杨凌
是否译文：否