应电子装备结构设计教育部重点实验室王从思教授邀请，美国伊利诺伊大学芝加哥分校智能系统建模与开发实验室（ISM＆D）Miao He博士于12月21日来我校进行学术交流。来访期间在北校区新科技楼801会议室进行了题目为“Detection of Pitting in Gears Using a Deep Sparse Autoencoder”的学术报告，报告介绍了她在机械故障诊断领域中提出的新型研究方法与取得的主要研究成果，并与实验室师生针对相关问题进行了讨论。报告会由王从思教授主持。
学术报告中，Miao He博士采用深度稀疏自动编码器来进行故障诊断分析，通过信息数据监测、数据挖掘、数据分析的方法，解决了传统基于模型方法时数学建模困难、模型不可移植性、时间成本高等问题，同时该方法适应性很强，并且故障诊断效率大大提高。在提问互动环节，Miao He博士与在场师生积极探讨相关问题并耐心细致的答疑解惑，报告会现场学术气氛热烈，参会师生收获颇丰。报告结束后，Miao He博士就海外读博申请、读博学习生活以及如何进行博士研究等问题和参会师生进行了分享交流。
来访期间，Miao He博士还参观了电子装备结构设计教育部重点实验室，对实验室参与的多项中国国家级重大工程留下了深刻印象，希望未来能在机械结构设计、智能系统建模、智能系统健康监测等方面开展更广泛的交流和合作。
人物简介：
Miao He，美国伊利诺伊大学芝加哥分校机械和工业工程系博士，主要研究方向是智能机械故障诊断分析和寿命预测，发表了多篇高质量期刊论文与国际会议论文，其中以第1作者分别在《Journal of Failure Analysis and Prevention》和《IEEE Transactions on Industrial Application》发表文章1篇，以及在行业核心会议Annual Conference of PHM Society发表会议文章1篇。
